四川成都LED温度冲击试验机设备 混合型湿度循环试验冷热冲击试验箱
理念的混合型试验设备。
具有湿度循环试验的功能。 型号 | TSH-100-W | TSH-200-W | 方 式 | 2温区或3温区风门切换方式 | 性能 | 测试区域 | 高温曝露温度范围 | 冷热循环试验+70℃～ +150℃ 结露循环试验-10℃～ +100℃ | 低温曝露温度范围 | -70℃～ +10℃ | 温度波动 | ± 1℃ | 湿度波动 | ± 5%RH | 高温恒温器 | 预热温度上限 | +150℃ | 湿度范围 | 40～95%RH(结露循环试验时) | 温度上升时间 | -10℃→+100℃ 30分以内 | 温度下降时间 | +20℃→-10℃ 60分以内 | 低温恒温器 | 预冷温度下限 | -75℃ | 温度上升时间 | -75℃→+10℃ 30分以内 | 温度下降时间 | 常温到-75℃ 60分以内 | 温度恢复性能 | 冷热循环试验 | 恢复条件 | 2温区高温曝露：+75℃ /60分 低温曝露：-35℃ /30分电源电压：AC200V传感器位置：试料上风口试料：铝合金170kg | 恢复时间 | 高温恢复：10分以内(常温→+150℃) 低温恢复：10分以内(常温→ -65℃) | 高温恢复：16分以内(常温→+150℃) 低温恢复：16分以内(常温→ -65℃) | 结露循环试验1 | 恢复条件 | 2温区高温曝露：+75℃ /60分 低温曝露：-35℃ /30分电源电压：AC200V传感器位置：试料上风口试料：铝合金170kg | 恢复时间 | 高温恢复：20秒以内(5℃→+25℃90%RH) 低温恢复：3分以内(+25℃90%RH→ +5℃) | 高温恢复：20秒以内(+5℃→+25℃90%RH) 低温恢复：5分以内(+25℃90%RH→ +5℃) | 结露循环试验2 | 恢复条件 | 2温区高温曝露：+75℃ /60分 低温曝露：-35℃ /30分电源电压：AC200V传感器位置：试料上风口试料：铝合金170kg | 恢复时间 | 高温恢复：5分以内(-30℃→+25℃ 95%RH) 低温恢复：5分以内(+25℃ 95%RH→ -30℃) | 高温恢复：10分以内(常温→+150℃) 低温恢复：10分以内(常温→ -65℃) | 试料框承重 | 5?(试样均匀分布) | 测试区尺寸 | W650 × H460 ×D370mm | W650 × H460 ×D670mm | 本体外尺寸 | W1670 × H1900 ×D1570mm | W1670 × H1900 ×D1870mm | 重 量 | 约1300kg | 约1550kg |
| ※ 1环境温度+23℃时测得的数据 |
四川成都LED温度冲击试验机设备
设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；
设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小；
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命；
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性；
多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）保证了用户多种功能和测试的需要；
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果；
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求。 可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能
温度控制
可实现温度定值控制和程序控制；
全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；
每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性；
USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；
制冷及电控关键配件均采用产品，使设备的整体质量得到了提升和保证；  四川
设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验 |
