电控柜温度冲击测试，电子产品冷热冲击设备 用途
适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的助手。 电控柜的温度冲击测试是电控柜必须具备的一个试验，为厂家提高了产品质量，效率。然而电子产品更多的厂家也已经开始使用冷热冲击的设备，为商家带来的是电子产品的生产率，成功案例太多。 设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；
设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性；
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小；
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命；
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性；
多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）保证了用户多种功能和测试的需要；
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果；
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求； 电控柜温度冲击测试，电子产品冷热冲击设备 性能 | 高温室 | 预热温度范围 | ＋60～＋200℃ | | | 升温速率※1 | ＋60→＋200℃≤20分钟 | | 低温室 | 预冷温度范围 | －78－0℃ | | | 降温速率※1 | ＋20→－75℃≤80分钟 | | 试验室 | 温度偏差 | ±2℃ | | | 温度范围 | TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | | | 温度恢复时间※2 | 5分钟以内 | 试样搁架承载能力 | 30kg |
JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22 | +70 +85 +100 +125 | ±2 ±2 ±2 ±2 | 室温 | -5 -10 -25 -40 -55 -65 | ±3
±3
±3
±3
±3
±3 | 3hr
2hr
1hr
30min
或无定义则
以3hr定义 | 手动转
移时间
2～3Min | 为驻留时间
之1/10 | 5 cycle
除非有
其它规格 | 低温 | Auto
Transfer time
不超过30 sec
小试件
Transfer time
不超过10 sec | ★ | ★ | ★ | ◎ | ◎ | ◎ | ◎ | ◎ | ◎ | ◎ | ◎ | ◎ | | | ◎ | ◎ | ◎ | | | ◎ | ◎ | ---- | IPC 2.6.7 | +70 | ±2 | ---- | 0 | +0 | 15 Min | ---- | 2 Min 以内 | 100 cycle | 高温
(试验结束
点在高温) | Transfer time
不超过2 min | ★ | ★ | ★ | -0 | -5 | +85 | +5 | -40 | +0 | ◎ | ◎ | ◎ | -0 | -5 | +105 | +5 | -55 | +0 | ◎ | ◎ | ． | -0 | -5 | +105 | +5 | -65 | +0 | ． | ． | ---- | -0 | -5 | +105 | +5 | | | ． | ． | ---- | -0 | IPC 2.6.6 | +85 | +3 | -25 | +10 | -55 | +0 | 30 Min | 10-15
Min | | 5 cycle | | | ◎ | ◎ | ◎ | -0 | -5 | +125 | +3 | -5 | -65 | +0 | ◎ | ◎ | ---- |
使用高低温冲击试验箱时的注意事项 1.于操作当中，除非有必要，请不要打开箱门，否则可能导致下列不良的后果。 若高温测试时，高温热气冲出箱外，十分危险 若低温测试时，导致冷冻系统容易结霜，影响测试效果 箱门内侧仍然保持高温，造成伤害 高温空气可能触发火灾警报，产生误动作 2.请注意本机必须安全确实的接地，以免产生静电感应 3.避免于三分钟内关闭再开启冷冻机组 4.若水冷时，请使用自来水或经处理过之软水，以保持散热系统回路顺畅 5.如果箱内放置发热试料时，试料电源控制请使用外加电源，不要直接使用本机电源。 温度测试箱不可倒置安装，必须水平地安置在地板上，使温度测试箱之操作门开启方便，减少机械运转时之噪音。 
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